可對太陽能電池生產PECVD工藝后所鍍氮化硅膜層的膜層厚度進行測試，可給出膜厚分布的MAP圖。也可對所鍍膜層的光學折射率n值進行測量。

對電池片采樣可打每秒鐘4000個測試樣點。

產品詳細資料見公司網站資料下載

公司網站：www.kingdom-tech.com.cn