研究機構GTM Research與光伏組件實驗室PV Evolution Labs（PVEL）聯(lián)合公布光伏組件可靠性最新測試報告，展現(xiàn)出一幅錯綜復雜的畫面

7月17日，GTM Research與PVEL聯(lián)合公布《2014年PVEL組件可靠性測試結(jié)果》報告。從結(jié)果顯示來看，影響光伏組件可靠性的因素絕非想象中的那么簡單容易。
本次報告組件性能測試結(jié)果主要基于六種類型各異的測驗，包含濕熱、熱循環(huán)及潛在電勢誘導衰減（PID）。報告發(fā)現(xiàn)，某個測試得分高的組件未必能在另一個測試中獲得高分。

據(jù)悉，所有測試均基于PVEL高加速壽命測試（HALT）項目——旨在模仿實際條件與明確長期潛在性質(zhì)量問題及故障模式。因此，測試標準已超出IEC 61215與UL 1703標準——只能識別早期故障，卻無法明確壽命減退征兆。

GTM Research指出，測試結(jié)果顯示各個廠商組件各類測試得分并不相同，無法顯示不同生產(chǎn)地與不同規(guī)模制造商對組件性能的具體影響。“就測試結(jié)果而言，沒有看到任何顯而易見的趨勢。” GTM Research太陽能研究部總監(jiān)MJ Shaio指出，“每一個測試結(jié)果均不相同。”

GTM Research指出，某家制造商的組件在所有測試中均取得相對不錯的成績。然而，該企業(yè)并未透露具體企業(yè)名。據(jù)GTM Research透露，每項測試的組件至少來自10家制造商（隨機選擇）。中國英利綠色能源、天合光能及日本京瓷均為參與企業(yè)。

報告展示出某些特定故障模式的潛在性問題，其中被記錄頻率最高的是PID測試——一部分組件表現(xiàn)實在欠佳。

“盡管廠家紛紛聲稱自己的組件具有抗PID性能，但測試結(jié)果并未明確展示出這一點。”MJ Shaio指出，“我們看到一部分組件并未出現(xiàn)衰退跡象，但另一部分組件性能在測試之后完全衰退。”

報告指出，另一個值得關注的領域即熱循環(huán)。“沒有組件制造商能夠避免熱循環(huán)的影響。” GTM Research太陽能分析師Jade Jones指出。她表示，未來數(shù)年里，很多光伏組件將被安裝在熱循環(huán)占據(jù)重要地位的地區(qū)。

GTM認為，總體而言，組件的表現(xiàn)相對較好。Shiao表示該報告有助于安裝商及買家了解組件的各種屬性，以便更好的做出選擇。“組件質(zhì)量絕非局限于單一的特征。我們必須觀察系統(tǒng)的安裝地點以及系統(tǒng)所運用的技術類型。”