7月11日，國電光伏晶硅系列組件順利通過了IECEE國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC 62804 Ed. 1.0(82/685/NP)系統(tǒng)偏壓耐受測試System Voltage Durability Test(即Potential Induced Degradation，縮寫PID，電勢誘發(fā)衰減測試)，獲得Anti-PID證書，成為獲得TUV南德意志集團(tuán)PID認(rèn)證標(biāo)識的光伏企業(yè)。

據(jù)了解，一些光伏電站實(shí)際使用中表明，由于組件帶電部分和接地邊框或接地外部之間的潛在高電壓可以導(dǎo)致組件退化，退化受多種機(jī)制影響，這些退化機(jī)制包含電位誘發(fā)衰減、極化、電解腐蝕、電化學(xué)腐蝕。嚴(yán)重時可引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個電站的功率輸出。近年來這已經(jīng)成為國外買家投訴國內(nèi)組件質(zhì)量的重要因素之一。而PID測試通過模擬組件在光伏發(fā)電系統(tǒng)中的實(shí)際應(yīng)用條件，驗(yàn)證組件抗PID性能，而此性能也成為反映組件品質(zhì)和可靠性的重要測試項(xiàng)目之一。

國電光伏晶硅系列組件經(jīng)TUV SUD的PID測試，證實(shí)其在高溫、潮濕等嚴(yán)苛環(huán)境下前后功率基本無衰減，保證高效的功率輸出，表現(xiàn)出卓越的性能和品質(zhì)。這將進(jìn)一步提升國電光伏產(chǎn)品的國際競爭力，為公司創(chuàng)造良好的經(jīng)濟(jì)效益。