近日，正泰新能ASTRO N系列組件進(jìn)行加嚴(yán)UVID測試，UV60輻射等級測試下衰減率僅0.7%，優(yōu)異可靠性保障長效穩(wěn)定發(fā)電！

在美國權(quán)威檢測機(jī)構(gòu)RETC最新發(fā)布的報(bào)告中，紫外線誘導(dǎo)衰減（Ultraviolet induced degradation，UVID）問題被標(biāo)識為光伏行業(yè)面臨的主要可靠性挑戰(zhàn)之一。RETC針對UVID問題發(fā)出警告，UVID由此受到行業(yè)內(nèi)廣泛關(guān)注。

UVID指光伏組件在紫外線照射下導(dǎo)致的性能衰減。光伏組件長久暴露在陽光之下，陽光中的紫外線影響封裝材料壽命的同時(shí)，還會影響電池表面的鈍化膜層結(jié)構(gòu)，破壞電池膜層中的Si-H鍵，從而影響界面鈍化效果，導(dǎo)致光伏組件發(fā)電性能下降。

面對UVID，正泰新能“早有準(zhǔn)備”。正泰新能n型電池技術(shù)設(shè)計(jì)自一開始就明確較合適的鍍膜設(shè)備，并持續(xù)優(yōu)化工藝制程參數(shù)，通過引入嚴(yán)格的質(zhì)量管控體系，確保ASTRO N產(chǎn)品在客戶端UVID質(zhì)量無憂。同時(shí)，正泰新能從電池鈍化膜層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)優(yōu)化入手，采用行業(yè)領(lǐng)先的薄膜沉積技術(shù)，有效提高膜層致密性，制備厚度更優(yōu)、精度更高的氧化鋁膜層，且基本無繞鍍產(chǎn)生，結(jié)合最新的LIF工藝，有效增強(qiáng)膜層紫外線耐受度，從根源上改善UV問題。

為驗(yàn)證正泰新能組件產(chǎn)品的抗UVID性能，正泰新能對ASTRO N系列組件進(jìn)行UVID加嚴(yán)測試，分別將組件暴露于UV60（60 kWh/㎡）、UV120（120 kWh/㎡）兩個(gè)輻射等級，相較于常規(guī)UV15認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，組件受到的紫外輻射強(qiáng)度分別加強(qiáng)了4倍和8倍。

結(jié)果表明，ASTRO N系列組件在UV60輻射等級測試下，衰減率僅有0.7%。在UV120的超嚴(yán)苛條件下，ASTRO N組件依舊保持超低衰減，衰減率僅1.2%。與此同時(shí)，正泰新能正在同步將組件送測至專業(yè)第三方機(jī)構(gòu)，推進(jìn)更高UV等級的加嚴(yán)測試，驗(yàn)證組件在更嚴(yán)苛環(huán)境下的可靠性能。

與此同時(shí)，為驗(yàn)證組件在更加極端環(huán)境中的極致可靠性，正泰新能ASTRO N還進(jìn)行濕紫外測試，同樣取得優(yōu)異的測試結(jié)果，確保組件在東南亞、中東非等高紫外高溫高濕環(huán)境下長效穩(wěn)定發(fā)電。

不僅如此， 正泰新能通過不斷的技術(shù)探索與創(chuàng)新，摸索出一套電池UV監(jiān)控系統(tǒng)，可快速識別新電池、新工藝對UVID性能的影響，從而為產(chǎn)品質(zhì)量提供更有效的監(jiān)控手段，持續(xù)保障產(chǎn)品的高可靠性。

正泰新能通過技術(shù)創(chuàng)新和優(yōu)化設(shè)計(jì)，顯著提升其產(chǎn)品的抗UVID性能，確保電池組件在極端紫外線環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行。作為第一梯隊(duì)光伏組件供應(yīng)商，正泰新能致力于產(chǎn)品研發(fā)與技術(shù)創(chuàng)新，持續(xù)加強(qiáng)產(chǎn)品可靠性與性能，為長期價(jià)值保駕護(hù)航。